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XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀

產品型號：XF-8100

產品簡介：

XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀采用全新的光路設計和光學部件，大幅度提高各元素特征X射線強度（CPS），從而使儀器分析精度得到突破性提高，并且縮短了樣品測定時間。

詳細介紹

XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀
特點

* 采用全新的光路設計和光學部件，大幅度提高各元素特征X射線強度（CPS），從而使儀器分析精度得到突破性提高，并且縮短了樣品測定時間。

* 對影響儀器穩定性的主要環節做了實質性改進，從而為顯著提高儀器的穩定性創造了條件。

* 對影響儀器可靠性的主要環節做了全新設計，顯著提高了儀器長期連續工作的可靠性。

* 元素譜峰束集電路采用工業控制機內插式高速MCA卡。

* 本儀器為多道同定型WDXRF光譜儀，每個元素一個通道，多數部件可以互換，穩定分析，速度快，真空室小，故障率低。

* 分析元素多（Na~U），分析含量范圍廣ppm～100％；

* 樣品處理相對簡單；

* 試樣形態多樣化（固體、液體、粉末等）；

* 可快速分析粉末壓片，玻璃熔片和塊狀物料；非破損分析；

* 采用多路數字MCA實時檢測，不僅便于儀器調試和故障診斷，并可進一步提高儀器的分析精度和穩定性。

水泥行業應用領域：
XF-8100非常適合在大、中、小型水泥廠（單、雙窯）做質量過程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、礬土、菱鎂礦和其他礦物）中主量和次量氧化物的分析;生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常規元素的測定。

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XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀采用全新的光路設計和光學部件，大幅度提高各元素特征X射線強度（CPS），從而使儀器分析精度得到突破性提高，并且縮短了樣品測定時間。

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XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀采用全新的光路設計和光學部件，大幅度提高各元素特征X射線強度（CPS），從而使儀器分析精度得到突破性提高，并且縮短了樣品測定時間。

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